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自説展開＜ＮＯ．９＞

＜表題一覧表＞

ＮＯ．２３　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜２＞＜起稿　シバケン＞（１２／０７／２３）

【シバケン】　2012/07/23 (Mon) 10:21

＜参考＝ＮＯ．２０　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜１＞＞の続き。


＜副題＝最低限、３点＞


イヤ、諸般、加速試験をするに、温度条件があるですが。
温度も、制限があるを前述したです。


結果、温度３種類とした場合、「７５度」「１２５度」「１７５度」
或いは、「５０度」「１００度」「１５０度」と、５０度間隔が一般的かと。

オッとの、「アレニウスの法則」は、「１０度で、倍」なれどの、これは、理論的、計算値の話やわと。
＜参考＝「アレニウスの法則」（日経エレクトロニクス）＞


での、
話飛ばさず、何で、３種類の条件を選定するかとなればの、一点、一種類の温度では、該当温度のみの結果しか分からんです。

二点、二種類の温度では、さての、二種類の間の温度での、不良発生等々、推測したい場合、単純に、案分で良いのか、アカンのかの、判断出来ませんでして。

最低限、三点ならば、推測可能と相成るです。

イヤ、「最低限、三点」なるは、温度だけに限らずの、諸般の試験、実験し、傾向を知る場合の条件として、「常識」です。

オッとの、加速試験なるは、そのデーターから、他の条件をも、推測するための、試験です。

一般的には、外部＜顧客＞に公表の試験条件下での、故障率をば、推測するためです。
或いは、新製品の故障率を早期予測、算出するためです。

【シバケン】　2012/07/24 (Tue) 01:55

で、
基本的なる話、ここだけの話を致すです。

まず、この手のデーターは、原則、＜顧客から＞要求されない限り、＜わざわざの＞出す事はありませんです。
顧客技術者がこの辺りを承知で、要求された場合のみです。
或いは、場合により、先様に承知して戴いた方がと、判断した時だけでして。

一般的には、「静特性」と称するの、諸般の特性は出すです。
「静特性」とは、所謂の、カタログに記載の程度の基本的データーです。

例えば、温度係数＜温度による特性の変化＞は重要でして。順方向、逆方向の温度による変動程度は出すかと。


信頼性試験については、この項目を実施してるの程度かと。
諸般、要求され、出すにしても、モデル・ケースの、不良個数ゼロ。
つまり、余程の大クレームで、先様が信頼性についての知識豊富で無い限り、門外不出かと。

【磯津千由紀】　2012/07/24 (Tue) 03:14

　シバケン様、こんばんは。


　成程、信頼性試験の“ノウハウ”は社外秘という訳ですね。
　我が身を振り返ってみれば、部品メーカから頂いた記憶もないです。部品の不良率が高かった時も。

【シバケン】　2012/07/24 (Tue) 08:12

磯津千由紀さん

ハイ、”社外秘”です。

データーを出すにしましても、相応に修正するです。相応とは、全くの、出鱈目の意ではありませんですが。
”社外”に、出せるデーターをと。


下記＜参考＞の、ガラスが破損するの、半田槽ドボ漬けの強制加速試験データーなるは、先様工程の問題でして。
ご参考にと、積極的に提示致すです。
＜参考＝「ＮＯ．２０　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜１＞」寄稿シバケン＞

【シバケン】　2012/07/24 (Tue) 09:18

「信頼性試験」なるは、当然にして、人手、設備と、時間が掛かるです。
加えての、一気に沢山のサンプルを試験出来ませぬ故、ン年、十ン年と、積み重ねたデーターを集計せねばなりませんです。

での、
何を隠そおの、隠す事も無いの、抵抗器製造部時代は、抵抗器の信頼性試験法を。
ダイオード製造部時代には、ダイオードの信頼性試験法を作成、集大成したです。
＜注＝社内規格＞

オッとの、試験法程度は、Jis規格＜日本＞、Mil規格＜米国＞等々、細かく記載されてるですが。

これらの記載は、原則、「試験条件」でして。
実際に試験をする場合、電圧、電流、規格、具体的方法を提示しなければ、試験出来ず。良否の判定出来ませんです。

先の通りの、それ以外の、社内独自＜社外秘＞試験法もあるです。

当然の、次世代、次々世代になれば、相応の追記、修正等々する筈の、さもなくばの、進歩無いです。

【シバケン】　2012/07/25 (Wed) 09:53

とかとか、
実際にやるの場合、温度、電圧で、寿命＜故障＞試験をするに、例えば、１２０時間、２５０時間、５００時間、１０００時間、２０００時間、５０００時間、１万時間等々、所定の時間で、サンプルを取り出し、測定するですが。

試験条件なるは、
温度＝７０度、１２０度、１７０度
＜注１＝７０度を起点に、５０度毎にしただけです＞
＜注２＝７０度に特段の意味は無い＞
＜注３＝起点は、管理試験をしてるの温度で宜しいかと＞

逆方向電圧＝３５Ｖ、５０Ｖ、８０Ｖ
＜注＝品種、３種類の規格値を想定＞

耐圧は、予め、１００Ｖ以上のサンプルを選定。理由、最大８０Ｖを負荷するためです。
尚、スイッチング・ダイオードの大凡の耐圧の実力値は、１００から、１５０Ｖ程度。



での、
結果をプロットするに、実は、項目＜パラメーター＞４つもあったら、一枚の紙＜グラフ＞に図示出来ませんでして。

マ、順々にの、
例えば、試験時間を横軸＜対数目盛＞、縦軸、通常目盛としの、電圧を、第三のパラメーターにと。
要は、一枚の紙に、電圧毎、３本の線をと。

ホナラの、温度はとなれば、欲張らず、古くさいの表現なれどの、温度毎３枚の、「紙」にと。

【シバケン】　2012/07/26 (Thu) 08:57

とかとかと、実際のグラフの書き方をば、云々何ですが。

古い考えなれどの、自分で描くのクセをと。
要は、諸般、見易くするに工夫をと。

オッとの、この辺り、重要でして。データーの見方を体得するは重要ゾと。
当世、何でも自動でやってくれるですが。便利で、時間は省けるですが。タマには、自分で描かんとと。
描いてる内に分かるです。異常なデーター、傾向と対策がと。

それもあるし、プログラム解析するにしたって、描画するにしたって、勘所が分からんかと。


オトトの、での、
話簡単の、概ね、推測付くの、温度が高けりゃ、高い程に、不良発生頻度高率となり。
電圧も、高けりゃ、高い程に、不良発生頻度高率になるです。

時間の経過と共に、顕著となって、当たり前の、成らんかったら、別途の問題がと。

別途とは、試験をミスってるです。

【シバケン】　2012/07/27 (Fri) 01:10

ここで、云い忘れたの常識、前提をば、記載するです。

試験に供するのサンプル＜供試品＞なるは、同一ロットの材料、同一製造工程をば、同時通過の、同一ロットからの、サンプルであらねばならぬです。

これも、欲を云えば、３ロットなりを試験するが、理想なれどと。欲を云えばの事でして。


又、サンプル数もあったです。
当たり前に、１個、２個では無いの、５０個、１００個等々、可能な限り、多くの数をやらねばならぬです。
「不良率」を出すに、１個、２個ではナと。


での、曖昧記憶ならばの、不良率に影響、温度か、電圧かとなればの、ええ勝負＜！＞
気持ち、温度に軍配かと。

結果、強制加速試験するに、温度高く、電圧高くと。

【シバケン】　2012/07/27 (Fri) 11:45

＜副題＝余談＞

＜参考＝「ＮＯ．１７０　こんな学校に誰がした？」寄稿通りすがりでもないＭｒ．Ｘ、シバケン＞に基づく余談。


事、「信頼性」に関しましては、下記の状況ではと、超推測してるです。

＜「信頼性」について＞
�@聞いた事はある＝１０人に１人
�A中身多少承知＝１００人に１人
�B中身可成り承知＝ン千人に１人
�C実務経験者＝ン万人に１人

これは、社会人経験者を対象とした場合です。
�Aの多少承知は、開発部門経験者を指すです。
�Bの可成りは、品質管理部署と、一部勉強熱心なるの、開発経験者を指すです。


まあ、つまりは、殆どの面々には、参考にも、役にも立たんですねえ。私にとっても、最早の過去の話の、おとぎ話でして。
よって、むしろの、投稿しよかと＜笑＞

但し、表現が難しいです。余りの専門用語は、意味無く。さりとての、平たくも大変でして。
所詮は、私共で、常識化してるの文言多数ありまして。或いは、前提となってるの事柄も多数存在してまして。
途中で、ハタと。大あわてで、追記致しましたり。

とかとか、諸般あるですが。
個別の試験項目を解説投稿致しましても意味が無く。
イヤ、ボチボチの、この話は終焉に向こてるです。

【シバケン】　2012/07/27 (Fri) 18:20

での、
当たり前と云えば、当たり前のです。
温度高く、電圧高くは、分かったとしてです。

イヤ、実際に、加速試験をやらん事には、実証出来ませんでして。
やる事で、数値が分かり、グラフ化で、見て、影響度が分かるです。


で、
それがどしたと、なればです。

超簡単、一言にては、「加速係数」が分かるです。

「加速係数」とはと、理屈云い出せば、超難関、数式が出て来まして。こんな式をと、あや、こやと、解説するは、愚の骨頂。

されどの、参考のため、示すだけはしとこかと。
尚、質問一切の受理致しませんです＜笑＞

＜参考＝「温度による加速」（東芝）＞
＜消滅・削除・１３／０４／１６＞


とりあえず、ここでは、
「寿命試験」の、「＜強制＞加速試験」にて、「加速係数」が分かるんやと。
だけで、充分やと。

「寿命試験」だけの話とは、違うですが。


結果、仕様書で明記＜公開＞の、一般的試験条件＜条件が甘い＞での、故障発生状況の推測が出来るです。
これは、時間的なモノでして。一般的試験条件下＜温度、電圧＞では、１０００時間や、２０００時間で、そは易々の、不良は出ませんでして。
尚、通例、一般試験条件下での寿命試験の、試験時間は、１０００時間。

出なければ、＜推定＞故障率も出せませんでして。
「加速試験」で故障を出す事で、＜推定＞故障率を算出出来るです。

又、新製品の早期評価が出来るです。

早期評価が出来れば、新製品開発を加速化出来るです。

【シバケン】　2012/07/28 (Sat) 02:03

＜副題＝「故障」と、「破壊」は違う。＞


斯くなるでの、「加速試験」とは、兎に角、「故障」させる事が目的でして。
「故障」させるに、理論的にと。
温度、電圧、電流等々を設定条件＜パラメーター＞にするが一般的なれどの、原則、高けりゃ良いは事実も、先の通りの、常識的、理論的でありの、無茶してもと。


温度を高くしたなら、供試品以外の問題がと。正常に負荷供給＜電流、電圧＞さえ出来るなら、出来る範囲で、高い方が宜しく。

負荷供給については、「故障」の範囲であれば宜しいですが。
負荷が厳しく、「破壊」はアカンです。
「故障」させると、「破壊」するは違うです。

これは、別途の試験に相成るの、「破壊試験」でして。

【シバケン】　2012/07/28 (Sat) 08:57

＜副題＝「加速試験」「破壊試験」明確に区分します。＞


＜参考＝「ＮＯ．２０　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜１＞」寄稿シバケン＞

上記で、寄稿の文言、

＞＜副題＝「不良を出す」＝「壊す」＞

としてまして。
此度、「破壊」では無いと記載しまして。
「壊す」は、「破壊」であっての、紛らわしい話をしてるですが。

＞壊すための条件なれどの、案外に諸般、制限があるです。

壊すの程度の問題でして。

一部、下記に記載してるです。
＜参考＝「ＮＯ．２０　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜１＞」寄稿シバケン＞


尚、表現的、「加速試験」「強制加速試験」「破壊試験」と、紛らわしい使い方をしてまして。

「加速試験」「強制加速試験」は、同じ事を云うてるですが。
以降、「破壊試験」は明確に区分致すです。

正直には、次第、次第に思い出し。可笑しいなあと。
すみませんです。

ＮＯ．２４　ＴｈｉｎｋＰａｄ Ｔ６０ｐ補修部品＜起稿　磯津千由紀＞（１２／０７／２５）

【磯津千由紀】　2012/07/25 (Wed) 01:56

１		先ずは、ＣＰＵ冷却Ａｓｓｙ．である。 　受熱部、ヒートパイプ２本、電動ファンと冷却フィンから成る。
２		ＣＰＵ冷却Ａｓｓｙ，の裏側である。 　受熱部が３つある。ＣＰＵ、ノースブリッジ、サウスブリッジ用である。
３		ＣＰＵ冷却Ａｓｓｙ．のＣＰＵ受熱部である。 　シリコングリスがエンボス状に塗布されている。
４		ウルトラスリムベイ用の、ＤＶＤスーパーマルチドライブである。 　内部のベア・ドライブは、ＭＡＴＳＨＩＴＡ ＵＪ-８４２の筈である。（ＭＡＴＵＳＨＩＴＡではない）

【磯津千由紀】　2012/07/25 (Wed) 02:12

　ＬＣＤ用インバータも探しているのだが、中古を含め、見付かっていない。

　ＬＣＤパネルは、２０４８画素×１５３６画素のＩＰＳパネルを入手済みなのだが、大掛かりな作業になるため、時間を取れずにいる。

【磯津千由紀】　2012/07/25 (Wed) 10:12

　ＣＰＵ冷却Ａｓｓｙ．発注の経緯は、下記にあります。

＜参考＝ＮＯ．３８　同時故障って偶然？＞

ＮＯ．２５　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜起稿　シバケン＞（１２／０７／３０）

【シバケン】　2012/07/30 (Mon) 10:46

＜参考＝ＮＯ．２３　実録・加速試験物語＜強制試験の目的＞＜２＞＞の続き。


「信頼性試験」「加速試験＜強制試験＞」

「信頼性試験」は公開＜社外秘では無いの意＞なれどの、あとは、原則、社外秘でして。

での、
下記＜参考＞には、「加速係数」が解説されてるですが。読んで、見て、分かるの通り、一般論。
資料として、使うに、一般論で、充分でして。

＜参考＝「温度による加速」（東芝）＞
＜消滅・削除・１３／０４／１６＞



＜参考＞に添付のグラフで、一番に解説し易いのは、添付図でして。
「MOS IC」「BipIC」についての温度によるの加速係数が示されてるです。

ででの、
「MOS IC」が、「BipIC」が何ぞやとなれば、超簡単には、ダイオードは、最も単純構造の半導体部品でして。IC＜集積回路＞では無いです。

単純構造となれば、ダイオードが一番に簡単でして。下記の如く、複雑になるです。
ダイオード＜トランジスタ＜BipIC＜MOSIC

以降、この図で解説致すです。

＜補足＞
BipIC＝バイポーラIC
MISIC＝モスIC
＜注＞バイポーラ、モスについては、主旨が異なる故、説明致しません。

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 01:02

図に、「DIODE」の加速係数を加えてみたです。
但し、超推測のイメージです。

イメージとしては、当然の、「BipIC」よりは、勾配、なだらかになる筈と。
つまり、加速係数は、温度により、他と比較では、小さいです。

云うまでも無いの、ダイオードの素子なるは構造超単純。且つは、樹脂成形と、ガラス封止では耐熱性も異なるわと。



で、
横軸、実は、温度の逆数＜１／Ｔ＞となってまして。ソ云えば、そやったなあと＜笑＞
＜注＝Ｔは温度ですが、単位Ｋ（ケルビン）＝摂氏＋２７３．１５＞
＜注＝「摂氏−２７３．１５度」は絶対零度＞

但し、それでは、見難い＜判断し難い＞故、温度＜摂氏＞も併記してあるですが。

勾配がきついは、温度によるの、加速係数高く。
温度も、１５０度が最大なれどです。樹脂成形は、こんなモンかと。ガラス封止のダイオードなら、１７５度辺りまで、試験するですが。
オッとの、グラフを見れば、加速係数は概ね分かるです。

加速係数とは、時間に対するの加速でして。

【磯津千由紀】　2012/07/31 (Tue) 01:17

　シバケン様、こんばんは。

　個人的には、加速率のグラフを出す前に、横軸に温度を取って縦軸に故障率を取ったグラフを見せるほうが、理解が早いだろうと思います。

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 02:25

磯津千由紀さん

指摘、有り難う御座います。
修正致しました。＜華氏、摂氏、絶対温度＞

で、
＞横軸に温度を取って縦軸に故障率を取ったグラフを見せるほうが、理解が早いだろうと思います。

同感です＜笑＞

なかなかに、適当なるグラフがありませんでして。
同資料＜東芝＞のは、ワイヤー・ボンディングの資料でして。

【磯津千由紀】　2012/07/31 (Tue) 05:01

　シバケン様、こんばんは。


　そうですか、温度横軸故障率縦軸の適当なグラフがなかったですか。
　単純なので、ペイント辺りででも作ったら如何でしょうか。

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 06:55

磯津千由紀さん


＞単純なので、ペイント辺りででも作ったら如何でしょうか。

そおですねえ。
描画に慣れておらずが大きな理由で、見送ってたですが。検討してみますです。

＜参考＝ＮＯ．２７　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜２＞＞に続く。

ＮＯ．２６　ダイオード：ガラス封入タイプ参考写真＜起稿　電右衛門＞（１２／０７／３１）

【電右衛門】　2012/07/31 (Tue) 09:56

参考写真はシリコンダイオード
電右衛門にはメーカーや品番は解りません

ガラス封入タイプ
ダイオードの姿形を御理解戴ければと投稿しました
（エーッ　そんな事は皆さん解ってるですってー　失礼しました）

尚　この投稿は直接書込みです

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 11:22

電右衛門さん

面白い資料を有り難う御座います。

で、
下手なイラストを作成してみましたです。
実は、ローム製とは構造が異なるです。

モ一発、本当に、素子は、シリコンかなあと。構造的、ゲルマニウム・ダイオードの特徴にも見えるです。


それは、別途の話故、置いといて。

でで、
この構造の違いについてのみ、解説させて戴くです。

電右衛門さんのは、素子に接触させるに、ジュメット部から、ピンを出してます。
ジュメット線と、ピンは溶接と思うですが。


ロームのは、単純構造で、そのピンがありません。
替わりに、素子＜シリコン＞には、銀の電極を生成してるです。
生成方法は、メッキです。
＜注＝素子の電極の件は、ここで、初めて、記載するです＞

銀メッキで、プクリと、瘤＜コブ＞のよな感で、素子の上に、銀の突起物が生成されるです。

その突起物を介して、単純に、ジュメット線で、素子を挟むの形です。
突起物の無い方は、そのままですが。

オッとの、組立法からは、図を９０度回転させた方が分かり易いですが。



＜続く＞

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 13:32

つまり、素子とリード部を接触させるに、ピンで行うか、素子の電極かと相成るですが。
電極があり、ピンで接触させるの箇所に、「PN接合部」があるです。

先刻、ゲルマニウムでは無いかと、しましたのは、ゲルマニウムは熱に弱いがため、なるべく、ジュメット部との距離を稼ぎ、点接触にしてるかと。


では、
シリコン素子とした場合、何が違うと考えられるのか＜？＞

これは、先様工程を知りませんので、超推測ですが、素子との接触不良であるの、オープン＜断線＞不良が少なくなるのでは無いかと。

との思いで、考案されたの製造法と思われるですが。
がしかしです。


これ又、超推測の、ソは易々の、オープン不良対策には成らずの、構造複雑な分、その他諸々をも含め、不良率高いかと。
この不良率とは、工程内は勿論の、製品出荷後の、市場不良率です。


あくまでもの、私の目からの話なれどの、組立作業工程が大変でして。
おそらくは、一個、一個の素子をピンの無い方のジュメット線の上に、方向を揃えて、置かねばなりませんです。
所謂の、ダイ・ボンディング方式かと。

ローム組立方式は、素子の方向を選びませぬ故、工数少なく、安価に製造出来るです。

【シバケン】　2012/07/31 (Tue) 16:36

＜追伸＞

画像は、ロームの製品です。

別途、製造技術の話も投稿予定です。

【磯津千由紀】　2012/07/31 (Tue) 17:41

　こんにちは。


　電右衛門様の写真、私にも、ゲルマニウム・ダイオードに見えるです。

【電右衛門】　2012/08/01 (Wed) 09:07

点接触型ゲルマニウムダイオード：1N60



コレを見てると少年の頃に帰り　ゲルマニューム・ラジオを組立たいですねー
筒にエナメル線巻　１００ピコのコンデンサー　バリコンも考えないけませんねー
クリスタル・イヤーホンも入手せねば成りませんが・・・

【シバケン】　2012/08/01 (Wed) 10:05

電右衛門さん

ヒゲのですねえ。
ヒゲと、ジュメット線との、接続箇所＜接続方法まで不明＞が良く見えてるです。


にしても、上手な写真やなあと。
実体顕微鏡かと思うですが。モノが球体で、ガラスでして＜笑＞
要はピントが合わせ難く、光の状態がで、なかなかに、このよな写真は撮れませんです。

【シバケン】　2012/08/01 (Wed) 10:33

＜追伸＞

余計な話の、先程の写真は、出来過ぎの、もしかしての、組立不良ではないのかなあと。

＜理由＞
ピンの先が、どこかと。
素子の横手に行きの、肝心の、ジャンクション部に行ってないよに見えまして。

【電右衛門】　2012/08/01 (Wed) 10:50

点接触型ゲルマニウムダイオード：1N60P



シバケンさん　
もう一枚写真が掲載されていました参考にどうぞ
昔取った杵柄と申しますか　プロの眼ですねーさすが

写真の撮り方は近接撮影にてマクロレンズ等を使い　深焦点でジックリ撮影されたのでしょうか？

【シバケン】　2012/08/01 (Wed) 11:16

電右衛門さん

イヤ、正直には、前回の写真の方が、内部構造良く見えてるです。
此度の方は、肝心なる箇所がボケてまして＜笑＞

で、
写真の撮り方は、目的により、異なるですが。又、人にもよりまして＜笑＞
要は、扱い慣れた機器、やりなれたの、手法で、案外に独自方式でして。

とは云え、概ね、一緒ですが＜笑＞

ダイオードの外観程度なら、先の通り、実体顕微鏡です。倍率が、５から１０倍で充分でして。

実体顕微鏡はどんなモンかとなればの、病院で、医者が使うよなヤツです。
要は双眼鏡みたいなヤツで、写真機がセット出来るです。

＜参考＝「実体顕微鏡」（オリンパス）＞


細かく見る＜倍率を高くする＞なら、金属顕微鏡でして。
更になら、電子顕微鏡と相成るです。

最近は、自動調整しますので、左程ではありませんですが。その昔は、シャッターを、１、２、３等々、秒数をカウントしたりしたですが＜笑＞

余計な話、当たり前の、白黒と、カラーでも秒数異なりまして。オッとの、ポラロイドです。
現在唯今は知りませんですが。

ＮＯ．２７　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜２＞＜起稿　シバケン＞（１２／０８／０１）

【シバケン】　2012/08/01 (Wed) 01:34

＜参考＝ＮＯ．２５　実録・加速試験物語＜加速係数＞＞の続き。


諸般諸々、余りに理屈を云い出すと、分かり難くなるなあと。
よって、仕切り直しの、「実録・加速試験物語＜加速係数＞＜２＞と致すです。


イヤ、グラフは正確が宜しく。
さりとての、単位が、片対数であるとか、温度の逆数等々、云い出せば、諸般あっての、本題に到達致しませぬ故、趣向変更。

その辺り、無視の、イメージとして、グラフを描きの、解説するかと。

での、最初は、
試験温度別の、試験時間＜Ｘ軸＞、故障率＜Ｙ軸＞で、示せば、イメージ的には、添付図の如くに相成るです。


要は試験温度＜Ｔａ＞なるが、低いと、故障発生頻度低く、故障に至るの時間を要するですが。
試験温度を高くする事で、故障する時間は短くなるです。

での、
イメージ図とは、概ねこんな傾向にあるを示すの図でして。実際には、斯様な綺麗な線は描けませんですが。

オッとの、さりとての、供試品を増やし、データーを積み重ねたならばの、限りなくの、イメージ図に接近致すです。

【磯津千由紀】　2012/08/01 (Wed) 01:47

　シバケン様、こんばんは。


　先ずは、Ｔａ（周囲空気温度）別の試験時間と故障率のグラフから来ましたか。成程。
　次は、横軸が温度のグラフが登場するのではないかと想像しています。

【シバケン】　2012/08/01 (Wed) 07:48

磯津千由紀さん

ハイ、難しい理屈よりは、なるべく、目で一発、分かるよにと。

私の場合、描画の練習からです＜笑＞


ででの、本題＜！＞

＜副題＝試験時間１０００ｈｒの場合＞

まずは、見慣れたら、最初のブラフでも分かるですが。
その最初のグラフに、１０００ｈｒ時点の、線を引いて見るです。




兎に角、強引にです。

例えば、Ｔａ１５０度での、１０００ｈｒでは、故障率、２００％になっても結構＜！＞
１０００％でも結構やと。

要は理論値、計算値等々称するは、「数字の遊び」でして。

【シバケン】　2012/08/02 (Thu) 01:04

での、
先のグラフから、得られた値をそのまま、「試験温度ｖｓ故障率」グラフに打点で、添付図の如くになるです。



要は、試験温度上げれば、故障率は高くなるです。

ででの、
「加速係数」とすれば、特別な、「係数」みたいなれどの、基準さえ、決めれば、「加速係数」なるは、「故障率」グラフと同じでして。

例えば、「Ｔａ２５度」を基準とするなら、そこの故障率を、「１」として、「故障率」をば、「倍率」に書き直せば、そのままの、「加速係数」＜！＞

【シバケン】　2012/08/02 (Thu) 08:17

添付図は、前回の図と中身一緒。

縦軸＝故障率→加速係数



Ｔａ２５度を基準、「１」とした場合の図示なれど。

これで、例えば、Ｔａを１５０度での試験をした場合、常温＜Ｔａ２５度＞の、何倍＜加速係数＞の試験をする事になるかが、分かるです。

【シバケン】　2012/08/03 (Fri) 21:04

オッとの、これがため、出来る限り、直線にするの工夫が必要でして。
実際の、試験データーからは、ナカナカに直線には成らぬですが。
よって、理論的、温度を「Ｔ」の逆数にしの、故障率も対数目盛にすれば、本来なら、直線になりますよの意でして。

考え方さえ、分かれば、結構かと。

例えばの、Ｔａ２５度の、１００倍が、Ｔａ１５０度の時に該当であるとした場合。
２５度の、加速係数、「１００」倍が、１５０度であると。

つまり、１５０度で、１０００時間の試験をしたなら、２５度では、１０万時間の試験に相当するとなるです。

くれぐれもの、実際値からの話に非ずの、考え方のみを示したですが。この方が、直感的、伝わり易いかと。

ＮＯ．２８　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜３＞＜起稿　シバケン＞（１２／０８／０４）

【シバケン】　2012/08/04 (Sat) 11:57

＜副題＝故障率１０％の場合＞

前回、「試験時間１０００時間」を基準にしたです。
＜参考＝「ＮＯ．２７　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜２＞」寄稿シバケン＞


では、故障率を基準にしたらと。
イヤ、同じでして。
例えば、故障率１０％で、考えるです。

【磯津千由紀】　2012/08/04 (Sat) 12:02

　シバケン様、こんにちは。


　１０ｄｅｇ上がるごとに故障率は「２倍」とは限らないの姿が、「加速係数」を通して見え始めてきた気がします。
　今後の連載に期待します。

【シバケン】　2012/08/04 (Sat) 12:21

磯津千由紀さん

有り難う御座います。
連載と云う程は続きませんですが＜笑＞

で、
温度により、「放射線状」「等間隔」に線を引っ張ってるですが、数字は別として、こんな具合です。

【シバケン】　2012/08/06 (Mon) 01:30

あくまでもの、イメージ図なれどの、便宜上、Ｘ軸を逆目盛にしてるです。

温度高いと、１０％の故障の、試験時間短くなり。
低いと、試験時間長くなって、当たり前。



ここで、何故、１０％としてるかとなればの、極端例、１００％ともなれば、時間、長過ぎの、摩耗故障での、現実的では無くなるです。

反対には、まさかの、０％では、信頼性試験の意味が無く。

１０％程度ならば、温度を高くしの、発生するの妥当なる故障であり、一般的、１０％としてるです。

【シバケン】　2012/08/06 (Mon) 09:34

での、
試験温度と、加速係数の関係なるはです。
基準温度＜Ｔａ２５度＞とした場合、原則、前回、試験時間のと、一緒の傾向に相成るです。
＜参考＝ＮＯ．２７　実録・加速試験物語＜加速係数＞＜２＞＞



オッとの、ついでにならば、故障率２０％なら、３０％ならと、シュミレーション大いに結構の、多分ならばの、大差無し。
イヤ、確認するは、重要なる事でして。データーがさえあれば、何とでもなるです。

但し、故障率基準高くは、シュミレーションとしてなら、結構なるも、受け手の印象悪いかと＜笑＞

ＮＯ．２９　実録・加速試験物語＜条件・判定基準が重要＞＜起稿　シバケン＞（１２／０８／０８）

【シバケン】　2012/08/08 (Wed) 07:24

データーとは。


同じデーターであっても、用いる人により、何とでもなるです。
故障率データーも、基準曖昧にされたら、さっぱりでして。

イヤ、試験時間＝１０００ｈｒでありの、又は、故障率＝１０％を基準にしたです。

更には、Ｔａ＝２５度を基準に加速係数を云々したです。
これを云わずして、加速係数は意味持たんです。

だけでは、さっぱりでして。何の試験＜？＞、寿命試験＜？＞

寿命試験と一口に云うても、種類は沢山有りまして。
逆方向に電圧を掛けての試験です。ならばの、電圧はと。電圧は、連続か、間歇（かんけつ）、パルスかと。
間歇等々なら、そのオン-オフ条件はと。


だけでは、まだ、分からんの、判定基準がありまして。
仕様書にうたうの基準で宜しいですが。
例えばの、Ｉｒ＝０．５μＡ　ａｔ　Ｖｒ＝５０Ｖ

ここまで来て、初めて、概要分かったですが。ここまでは、常識の範囲。

での、サンプル数は何個かと。
１０％を基準故に、最低でも１０個＜？＞
アホ抜かせ＜！＞

そんなサンプル数で、故障率データーには成らんです。
ホナラの、１００個かと。多けりゃ多い程に宜しいですが。１００個でどかとなれば、「緊急的評価」なら、５０個、１００個でも宜しいですが。

当然にして、モノにもよるですが。
小さく安価なモノと、大きく、高価なモノでして。

小さく安価なモノ、試験をし易いモノなら、千個は最低でも欲しいですが。
延々の、データーの積み重ねと相成るです。
地道な努力でありまして。

【シバケン】　2012/08/09 (Thu) 01:41

イヤイヤ、
そんな事で、一口に、加速係数がと、云々されましても、加速係数の事は承知しててもです。
承知してれば、承知してる程に、情報乏しければ、さっぱりでして。
先の条件によりの、差が生ずるです。

だけでは無いの、まだまだあるです。
試験装置、恒温槽、負荷電源、配線等々、細かく云い出せば切りも無く。

簡単には、恒温槽一つ取っても、例えばの、当世のと、３０年の昔の恒温槽の槽内温度分布、上下振れ幅からして、違うです。
違うなら、延々のデーターをば、蓄積しても、異なっては来るですが。
その他の条件が一緒故に、又、当然の、製造法も、材料も変遷してるですが。
承知の上での、蓄積をとしてるです。

そんな事で、
Ａ社の云う加速係数と、Ｂ社の加速係数では、異なって、不思議では無いです。
例え、同じのサンプルを同時に加速試験をしてもです。

よって、原則、Ａ社の加速係数なるは、Ａ社の加速係数であっての、Ｂ社にとって、参考値にはなっても、同一視は出来ませんです。

そもそもが、推定値やわと。

ならばの、信頼出来ぬ。
かとなればの、Ａ社では、Ａ社の加速係数は信頼出来るです。

【シバケン】　2012/08/10 (Fri) 01:16

オッとの、そんな事で、
各社、各様、諸般の加速係数で以て、新製品の開発、評価に使うです。

既に、云うてるですが。
一刻も早く、正確なる、故障率を出せれば、開発が進むです。品質問題解消にて、市場に出せるです。

イヤ、はっきりとは、新製品に不具合品多いは、概ね、この辺りのノウハウ、数字がつかめてない証左でして。
或いは、全くの、手抜きしたかでして。

手抜きとは、他社との、競争、開発競争、市場に一刻でも早くの、評価を急ぎ過ぎたの結果もあるかと。

先の通りの、最低でも、１０００時間。
単純計算なら、４２日間なれどの、作業時間等々のため、原則、日に２０時間と計算故、５０日を要するです。

加速係数で、短い期間で、故障率が出せる＜推測＞なら、その方がと。
問題発生の、対応も早いかと。

但しの、基本的、寿命試験についての話でして。
その他、諸々の評価、工程評価等々あるですが。

全部を云い出せば、切りが無く。
この切りの無い、評価法が、多けりゃ、多い程に、開発力でありの、技術力でありまして。
モノにより、どれを評価に選択するかかと。

【シバケン】　2012/08/10 (Fri) 08:54

そんな事で、
加速試験なるはです。
自社でやって無いよでは、あきませんです。
データー＜数字＞の把握、根拠は重要でして。
数字に事実を語らせるです。

語らせるに、見方、慣れがいるですが＜笑＞
私得意の、早とちりは怪我の元＜！＞

開発の問題だけに非ず。

おのれを知って、他を知るです。
おのれを知らずして、他の事、分からんです。